pegasus3390
Well-Known Member
Sau nhiều tháng im ắng sau khi thu hồi toàn cầu những chiếc Galaxy Note 7 hồi tháng 10, Samsung cuối cùng cũng đã đóng lại quá trình điều tra trong thời gian dài lý do tại sao pin trên các thiết bị này quá nhiệt và phát nổ. Dựa trên cuộc điều tra của công ty và những công ty phân tích độc lập thì vấn đề này xảy ra bởi các lý do khác nhau liên quan đến các nhà cung cấp của hãng.
Về trường hợp pin từ phía Samsung SDI, là do không có đủ các thành phần bảo vệ nhiệt giữa các tấm pin và lõi của nó. Bởi vì chiếc điện thoại quá mỏng và bị uốn cong ngay góc phải của các viên pin và trong tình huống xấu nhất thì các các thành phần này bị uốn cong dẫn đến việc đoản mạch và quá nhiệt.
Trong trường hợp nguồn pin từ phía Amperex Technology Limited, một số viên pin mất đi lớp cách điện cũng như một số khác (do gia công không tốt) có các thành phần cạnh sắc bên trong viên pin dẫn đến làm hỏng phần phân cách giữa cực âm và cực dương trong pin. Và với việc viên pin quá mỏng dẫn đến tăng khả năng gây hư hại cũng như bị đoản mạch
Kết quả phân tích này có được sau khi kiểm tra 200.000 thiết bị và 30.000 viên pin khi sạc cường độ cao và thực hiện việc sạc nhiều lần trong phòng thí nghiệm. Người đứng đầu bộ phận quan hệ công chúng của Samsung Moblie đã nói rằng công ty đã phải huy động đến 700 kỹ sư cho việc kiểm tra này và các đánh giá độc lập về vấn đề này cũng được thực hiện bởi 3 công ty khác là UL, Exponent, và TÜV Rheinland.
Samsung đã cung cấp chi tiết thông tin này tại cuộc họp báo nhưng không nói rõ về quy trình kiểm soát chất lượng trước đó của hãng, và hãng chỉ nói rằng sau sự việc này họ đã đại tu quá trình thử nghiệm về độ an toàn sản phẩm của mình.
Chỉnh sửa lần cuối:
